Não se sabe ao certo o quanto se perde na pós-colheita de grãos, da lavoura à indústria. É isso o que pretende medir o projeto patrocinado pelo Instituto ADM – Arthur Daniels Medeland, da Universidade de Illinois (EUA). O projeto foi apresentado nessa terça-feira no 41º Congresso Brasileiro de Engenharia Agrícola (CONBEA) e 10º Congreso Latinoamericano y del Caribe de Ingeniería Agrícola (CLIA), pelo professor de engenharia agrícola e biológica da Universidade de Illinois, Richard Gates.

O ADM é um centro de informação e tecnologia que pretende adaptar tecnologias e sistemas com foco em commodities, destacadamente soja, arroz e milho.

Gates explica que o projeto, iniciado em janeiro deste ano, será desenvolvido no Brasil e Índia. De acordo com o professor, no Brasil, já foram colhidos dados no Mato Grosso, Minas Gerais e Goiás. “Estamos na primeira etapa do projeto, que é saber exatamente o quanto se perde pós-colheita dos grãos, ou seja, na lavoura, no transporte e no armazenamento, tanto em qualidade quanto em quantidade”, afirma.

Finalizada esta fase, os próximos passos do projeto são o desenvolvimento e aplicação de melhorias e soluções. “Para isso, estamos procurando novos parceiros, como universidades, empresas de pesquisa, associações governamentais e não governamentais”, afirma.

Os organizadores do CLIA/CONBEA são a Associação Brasileira de Engenharia Agrícola (SBEA), Asociación Latinoamericana y del Caribe de Ingeniería Agrícola (ALIA), Universidade Estadual de Londrina (UEL), Instituto Agronômico do Paraná (IAPAR), Empresa Brasileira de Pesquisa Agropecuária (EMBRAPA) e EMATER. Universidade Estadual Paulista (UNESP) e Londrina Convention & Visitors Bureau são os apoiadores.